아이티엔티, DC & FUNCTION 테스터 `NEOS1` 개발 출시

↑ DC & FUNTION 테스터 ‘NEOS1’ [사진제공: 아이티엔티]

반도체 검사장비 전문기업 아이티엔티(대표 장경훈)은 메모리반도체를 효과적으로 테스트 할 수 있는 DC & FUNTION 테스터 'NEOS1'을 출시했다고 12일 밝혔다.
'NEOS1'는 특정제품에 한정되지 않고 DRAM, NAND FLASH, MOBILE DRAM, eMMC, UFS, HBM 등 메모리 전 제품의 테스트를 할 수 있다. 또 기존 타 경쟁사가 10MHz를 지원하는 DC TESTER 성능을 최대 200MHz까지 지원하면서도 가격은 절반 수준에 책정했다. 최소 단위가 매우 작은 사이즈로 실험실 용도에 적합하고 무한 확장이 가능해 대량 양산환경에 적합하다는 게 아이티엔티 측 설명이다.
또한 번인 소타에 연결해 번인 전 DC & Gross Function 불량 검출과 FOWLP(FAN OUT WAFER LEVEL PACKAGE) 등 복합칩 제조 전 메모리 DIE의 사전 불량 검출용도에도 사용할 수 있다.
아이티엔티는 2006년 설립이래 반도체 검사장비 분야에서 꾸준히 성장해 왔다. 메모리 검사장비 분야에서 50여개의 국내외 특허를 바탕으로 BOST(BUILT OFF SELF TEST)제품을 기반으로 꾸준한 연구개발을 진행했고 DRAM, NAND FLASH, MOBILE DRAM, STORAGE등 메모리 전 제품을 테스트 가능한 COST EFFECTIVE SOLUTION을 보유 중이다. 2015년부턴 급증하는 SSD 수요에 맞추어 TESTER 및 HANDLER SOLUTION을 TURN-KEY로 공급하기 위해 국내 대기업인 세메스의 자동화 사업부를 인수해 SSD 대량생산에 특화된 전자동화 시스템 검사 장비를 공급 중이다.
아이티엔티 관계자는 "메모리뿐만 아니라 설립 이래 10여년간의 꾸준한 연구개발투자로 국내는 거의 불모지인 비메모리 TESTER를 국내 대기업 및 해외 고객사에 공급하고 있다"면서 "테스트 스피드를 1Gbps이상 수준으로 증가시키고 번인 챔버 테스트 기능을 포함한 차세대 'HIGH SPEED BURN-IN TESTER'를 개발 중"이라고 말했다.
이것은 차세대 메모리인 HBM(HIGH BANDWIDTH MEMORY)의 고온(+150) & 저온(-50) 테스트 및 SLT(SYSTEM LEVEL TEST)기능 테스트목적에 사용 가능하다. TERABIT급 이상 대용량 UFS(UNIVERSAL FLASH STORAGE) 및 3D NAND FLASH MEMORY의 불량 검출에 적합하게 사용될 수 있고 eMMC를 포함하는 eMCP의 LPDDRx와 동시에 테스트하는 CON-CURRENT TEST 기능도 지원한다.
이 관계자는 "아이티엔티는 반도체 검사장비 분야에서 기술선도 기업을 목표로 끊임없는 연구개발을 통해 다양한 고객의 수요를 만족시키며 기술 경쟁력을 갖추는 기업이 될 것"이라고 덧붙였다.
[디지털뉴스국]